Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
IRIS Institutional Research Information System - AIR Archivio Istituzionale della Ricerca
DarkSide-50 is a detector for dark matter candidates in the form of weakly interacting massive particles. It utilizes a liquid argon time projection chamber for the inner main detector, surrounded by a liquid scintillator veto (LSV) and a water Cherenkov veto detector (WCV). The LSV and WCV act as the neutron and cosmogenic muon veto detectors for DarkSide-50. This paper describes the electronics and data acquisition system used for these two detectors. The system is made of a custom built front end electronics and commercial National Instruments high speed digitizers. The front end electronics, the DAQ, and the trigger system have been used to acquire data in the form of zero-suppressed waveform samples from the 110 PMTs of the LSV and the 80 PMTs of the WCV. The veto DAQ system has proven its performance and reliability. This electronics and DAQ system can be scaled and used as it is for the veto of the next generation DarkSide-20k detector.
The electronics and data acquisition system for the DarkSide-50 veto detectors / A. P., A. L., A. I. F. M., A. T., A. A. K., A. K., B. H. O., B. B., B. K., B. G., B. M., B. B., B. A., B. J., B. F., B. S., C. M., C. M., C. F., C. N., C. A., C. H., C. M., C. M., C. S., C. P., C. A., C. A. G., C. G., C. L., D. D'Angelo, D. M., D. S., D. S., D.D. M., D.V. M., D. A., D. A., D.E. F., D.P. G., E. E., E. A., F. A., F. G., F. K., F. G., F. D., G. F., G. C., G. C., G. A. M., G. F., G. L., G. M., G. M., G. Y., H. B. R., H. K. R., H. E. V., I. Aldo, I. Andrea, J. I., J. C., K. K., K. C. L., K. V., K. G., K. D., K. G., K. A., L. X., L. M., L. P., L. S., M. Y., M. I. N., M. A., M. S. M., M. J., M. L., M. C. J., M. A., M. P. D., M. T., M. R., M. D., M. A., M. M., M. M. E., M. P., M. B. J., M. V. N., M. P., N. J., N. A., O. S., O. M., O. F., P. L., P. M., P. E., P. S., P. K., P. N., P. A., P. S., P. D. A., Q. H., R. K., R. G., R. A., R. B., R. A. L., R. Q., R. A., R. B., R. N., R. S. D., S. D., S. P., S. R., S. W., S. S., S. C., S. E., S. D. A., S. E., S. P. N., S. M. D., S. O., S. A., S. C., S. Y., T. R., T. J., T. G., T. A., T. P., U. E. V., V. A., V. R. B., W. M., W. S., W. H., W. Y., W. A. W., W. S., W. J., W. M. M., X. X., X. J., Y. C., Y. J., Z. S., Z. A., Z. W., Z. C., Z. G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 11:12(2016), pp. P12007.1-P12007.24. [10.1088/1748-0221/11/12/P12007]
The electronics and data acquisition system for the DarkSide-50 veto detectors
Agnes, P.;Agostino, L.;Albuquerque, I. F. M.;Alexander, T.;Alton, A. K.;Arisaka, K.;Back, H. O.;Baldin, B.;Biery, K.;Bonfini, G.;Bossa, M.;Bottino, B.;Brigatti, A.;Brodsky, J.;Budano, F.;Bussino, S.;Cadeddu, M.;Cadoni, M.;Calaprice, F.;Canci, N.;Candela, A.;Cao, H.;Cariello, M.;Carlini, M.;Catalanotti, S.;Cavalcante, P.;Chepurnov, A.;Cocco, A. G.;Covone, G.;Crippa, L.;D. D'Angelo;D'Incecco, M.;Davini, S.;DeCecco, S.;De Deo, M.;De Vincenzi, M.;Derbin, A.;Devoto, A.;Di Eusanio, F.;Di Pietro, G.;Edkins, E.;Empl, A.;Fan, A.;Fiorillo, G.;Fomenko, K.;Foster, G.;Franco, D.;Gabriele, F.;Galbiati, C.;Giganti, C.;Goretti, A. M.;Granato, F.;Grandi, L.;Gromov, M.;Guan, M.;Guardincerri, Y.;Hackett, B. R.;Herner, K. R.;Hungerford, E. V.;Ianni, Aldo;Ianni, Andrea;James, I.;Jollet, C.;Keeter, K.;Kendziora, C. L.;Kobychev, V.;Koh, G.;Korablev, D.;Korga, G.;Kubankin, A.;Li, X.;Lissia, M.;Lombardi, P.;Luitz, S.;Ma, Y.;Machulin, I. N.;Mandarano, A.;Mari, S. M.;Maricic, J.;Marini, L.;Martoff, C. J.;Meregaglia, A.;Meyers, P. D.;Miletic, T.;Milincic, R.;Montanari, D.;Monte, A.;Montuschi, M.;Monzani, M. E.;Mosteiro, P.;Mount, B. J.;Muratova, V. N.;Musico, P.;Napolitano, J.;Nelson, A.;Odrowski, S.;Orsini, M.;Ortica, F.;Pagani, L.;Pallavicini, M.;Pantic, E.;Parmeggiano, S.;Pelczar, K.;Pelliccia, N.;Pocar, A.;Pordes, S.;Pugachev, D. A.;Qian, H.;Randle, K.;Ranucci, G.;Razeto, A.;Reinhold, B.;Renshaw, A. L.;Riffard, Q.;Romani, A.;Rossi, B.;Rossi, N.;Rountree, S. D.;Sablone, D.;Saggese, P.;Saldanha, R.;Sands, W.;Sangiorgio, S.;Savarese, C.;Segreto, E.;Semenov, D. A.;Shields, E.;Singh, P. N.;Skorokhvatov, M. D.;Smirnov, O.;Sotnikov, A.;Stanford, C.;Suvorov, Y.;Tartaglia, R.;Tatarowicz, J.;Testera, G.;Tonazzo, A.;Trinchese, P.;Unzhakov, E. V.;Vishneva, A.;Vogelaar, R. B.;Wada, M.;Walker, S.;Wang, H.;Wang, Y.;Watson, A. W.;Westerdale, S.;Wilhelmi, J.;Wojcik, M. M.;Xiang, X.;Xu, J.;Yang, C.;Yoo, J.;Zavatarelli, S.;Zec, A.;Zhong, W.;Zhu, C.;Zuzel, G.
2016
Abstract
DarkSide-50 is a detector for dark matter candidates in the form of weakly interacting massive particles. It utilizes a liquid argon time projection chamber for the inner main detector, surrounded by a liquid scintillator veto (LSV) and a water Cherenkov veto detector (WCV). The LSV and WCV act as the neutron and cosmogenic muon veto detectors for DarkSide-50. This paper describes the electronics and data acquisition system used for these two detectors. The system is made of a custom built front end electronics and commercial National Instruments high speed digitizers. The front end electronics, the DAQ, and the trigger system have been used to acquire data in the form of zero-suppressed waveform samples from the 110 PMTs of the LSV and the 80 PMTs of the WCV. The veto DAQ system has proven its performance and reliability. This electronics and DAQ system can be scaled and used as it is for the veto of the next generation DarkSide-20k detector.
Front-end electronics for detector readout; Data acquisition concepts; Scintillators, scintillation and light emission processes (solid, gas and liquid scintillators); Detector control systems (detector and experiment monitoring and slow control systems, architecture, hardware, algorithms, databases)
The electronics and data acquisition system for the DarkSide-50 veto detectors / A. P., A. L., A. I. F. M., A. T., A. A. K., A. K., B. H. O., B. B., B. K., B. G., B. M., B. B., B. A., B. J., B. F., B. S., C. M., C. M., C. F., C. N., C. A., C. H., C. M., C. M., C. S., C. P., C. A., C. A. G., C. G., C. L., D. D'Angelo, D. M., D. S., D. S., D.D. M., D.V. M., D. A., D. A., D.E. F., D.P. G., E. E., E. A., F. A., F. G., F. K., F. G., F. D., G. F., G. C., G. C., G. A. M., G. F., G. L., G. M., G. M., G. Y., H. B. R., H. K. R., H. E. V., I. Aldo, I. Andrea, J. I., J. C., K. K., K. C. L., K. V., K. G., K. D., K. G., K. A., L. X., L. M., L. P., L. S., M. Y., M. I. N., M. A., M. S. M., M. J., M. L., M. C. J., M. A., M. P. D., M. T., M. R., M. D., M. A., M. M., M. M. E., M. P., M. B. J., M. V. N., M. P., N. J., N. A., O. S., O. M., O. F., P. L., P. M., P. E., P. S., P. K., P. N., P. A., P. S., P. D. A., Q. H., R. K., R. G., R. A., R. B., R. A. L., R. Q., R. A., R. B., R. N., R. S. D., S. D., S. P., S. R., S. W., S. S., S. C., S. E., S. D. A., S. E., S. P. N., S. M. D., S. O., S. A., S. C., S. Y., T. R., T. J., T. G., T. A., T. P., U. E. V., V. A., V. R. B., W. M., W. S., W. H., W. Y., W. A. W., W. S., W. J., W. M. M., X. X., X. J., Y. C., Y. J., Z. S., Z. A., Z. W., Z. C., Z. G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 11:12(2016), pp. P12007.1-P12007.24. [10.1088/1748-0221/11/12/P12007]
reserved
Prodotti della ricerca::01 - Articolo su periodico
158
262
Article (author)
no
A. P., A. L., A. I. F. M., A. T., A. A. K., A. K., B. H. O., B. B., B. K., B. G., B. M., B. B., B. A., B. J., B. F., B. S., C. M., C. M., C. F., C. N., C. A., C. H., C. M., C. M., C. S., C. P., C. A., C. A. G., C. G., C. L., D. D'Angelo, D. M., D. S., D. S., D.D. M., D.V. M., D. A., D. A., D.E. F., D.P. G., E. E., E. A., F. A., F. G., F. K., F. G., F. D., G. F., G. C., G. C., G. A. M., G. F., G. L., G. M., G. M., G. Y., H. B. R., H. K. R., H. E. V., I. Aldo, I. Andrea, J. I., J. C., K. K., K. C. L., K. V., K. G., K. D., K. G., K. A., L. X., L. M., L. P., L. S., M. Y., M. I. N., M. A., M. S. M., M. J., M. L., M. C. J., M. A., M. P. D., M. T., M. R., M. D., M. A., M. M., M. M. E., M. P., M. B. J., M. V. N., M. P., N. J., N. A., O. S., O. M., O. F., P. L., P. M., P. E., P. S., P. K., P. N., P. A., P. S., P. D. A., Q. H., R. K., R. G., R. A., R. B., R. A. L., R. Q., R. A., R. B., R. N., R. S. D., S. D., S. P., S. R., S. W., S. S., S. C., S. E., S. D. A., S. E., S. P. N., S. M. D., S. O., S. A., S. C., S. Y., T. R., T. J., T. G., T. A., T. P., U. E. V., V. A., V. R. B., W. M., W. S., W. H., W. Y., W. A. W., W. S., W. J., W. M. M., X. X., X. J., Y. C., Y. J., Z. S., Z. A., Z. W., Z. C., Z. G.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2434/545578
Citazioni
ND
8
9
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
