Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon

Agnes, P.; Albuquerque, I.F.M.; Alexander, T.; Alton, A.K.; Asner, D.M.; Back, H.O.; Baldin, B.; Biery, K.; Bocci, V.; Bonfini, G.; Bonivento, W.; Bossa, M.; Bottino, B.; Brigatti, A.; Brodsky, J.; Budano, F.; Bussino, S.; Cadeddu, M.; Cadoni, M.; Calaprice, F.; Canci, N.; Candela, A.; Caravati, M.; Cariello, M.; Carlini, M.; Catalanotti, S.; Cavalcante, P.; Chepurnov, A.; Cicalo, C.; Cocco, A.G.; Covone, G.; D'Angelo, D.; D'Incecco, M.; Davini, S.; Cecco, S.D.; Deo, M.D.; Vincenzi, M.D.; Derbin, A.; Devoto, A.; Eusanio, F.D.; Pietro, G.D.; Dionisi, C.; Edkins, E.; Empl, A.; Fan, A.; Fiorillo, G.; Fomenko, K.; Forster, G.; Franco, D.; Gabriele, F.; Galbiati, C.; Giagu, S.; Giganti, C.; Giovanetti, G.K.; Goretti, A.M.; Granato, F.; Gromov, M.; Guan, M.; Guardincerri, Y.; Hackett, B.R.; Herner, K.; Hughes, D.; Humble, P.; Hungerford, E.V.; Ianni, A.; James, I.; Johnson, T.N.; Jollet, C.; Keeter, K.; Kendziora, C.L.; Koh, G.; Korablev, D.; Korga, G.; Kubankin, A.; Li, X.; Lissia, M.; Loer, B.; Lombardi, P.; Longo, G.; Ma, Y.; Machulin, I.N.; Mandarano, A.; Mari, S.M.; Maricic, J.; Marini, L.; Martoff, C.J.; Meregaglia, A.; Meyers, P.D.; Milincic, R.; Miller, J.D.; Montanari, D.; Monte, A.; Mount, B.J.; Muratova, V.N.; Musico, P.; Napolitano, J.; Agasson, A.N.; Odrowski, S.; Oleinik, A.; Orsini, M.; Ortica, F.; Pagani, L.; Pallavicini, M.; Pantic, E.; Parmeggiano, S.; Pelczar, K.; Pelliccia, N.; Pocar, A.; Pordes, S.; Pugachev, D.A.; Qian, H.; Randle, K.; Ranucci, G.; Razeti, M.; Razeto, A.; Reinhold, B.; Renshaw, A.L.; Rescigno, M.; Riffard, Q.; Romani, A.; Rossi, B.; Rossi, N.; Rountree, D.; Sablone, D.; Saggese, P.; Sands, W.; Savarese, C.; Schlitzer, B.; Segreto, E.; Semenov, D.A.; Shields, E.; Singh, P.N.; Skorokhvatov, M.D.; Smirnov, O.; Sotnikov, A.; Stanford, C.; Suvorov, Y.; Tartaglia, R.; Tatarowicz, J.; Testera, G.; Tonazzo, A.; Trinchese, P.; Unzhakov, E.V.; Verducci, M.; Vishneva, A.; Vogelaar, B.; Wada, M.; Walker, S.; Wang, H.; Wang, Y.; Watson, A.W.; Westerdale, S.; Wilhelmi, J.; Wojcik, M.M.; Xiang, X.; Xiao, X.; Xu, J.; Yang, C.; Zhong, W.; Zhu, C.; Zuzel, G.

doi:10.1088/1748-0221/12/01/P01021

Measurements were made of scintillation light yield of alpha particles from the222Rn decay chain within the DarkSide-50 liquid argon time projection chamber. The light yield was found to increase as the applied electric field increased, with alphas in a 200 V/cm electric field exhibiting a â¼2% increase in light yield compared to alphas in no field.

Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon / P. Agnes, I.F.M. Albuquerque, T. Alexander, A.K. Alton, D.M. Asner, H.O. Back, B. Baldin, K. Biery, V. Bocci, G. Bonfini, W. Bonivento, M. Bossa, B. Bottino, A. Brigatti, J. Brodsky, F. Budano, S. Bussino, M. Cadeddu, M. Cadoni, F. Calaprice, N. Canci, A. Candela, M. Caravati, M. Cariello, M. Carlini, S. Catalanotti, P. Cavalcante, A. Chepurnov, C. Cicalo, A.G. Cocco, G. Covone, D. D'Angelo, M. D'Incecco, S. Davini, S.D. Cecco, M.D. Deo, M.D. Vincenzi, A. Derbin, A. Devoto, F.D. Eusanio, G.D. Pietro, C. Dionisi, E. Edkins, A. Empl, A. Fan, G. Fiorillo, K. Fomenko, G. Forster, D. Franco, F. Gabriele, C. Galbiati, S. Giagu, C. Giganti, G.K. Giovanetti, A.M. Goretti, F. Granato, M. Gromov, M. Guan, Y. Guardincerri, B.R. Hackett, K. Herner, D. Hughes, P. Humble, E.V. Hungerford, A. Ianni, I. James, T.N. Johnson, C. Jollet, K. Keeter, C.L. Kendziora, G. Koh, D. Korablev, G. Korga, A. Kubankin, X. Li, M. Lissia, B. Loer, P. Lombardi, G. Longo, Y. Ma, I.N. Machulin, A. Mandarano, S.M. Mari, J. Maricic, L. Marini, C.J. Martoff, A. Meregaglia, P.D. Meyers, R. Milincic, J.D. Miller, D. Montanari, A. Monte, B.J. Mount, V.N. Muratova, P. Musico, J. Napolitano, A.N. Agasson, S. Odrowski, A. Oleinik, M. Orsini, F. Ortica, L. Pagani, M. Pallavicini, E. Pantic, S. Parmeggiano, K. Pelczar, N. Pelliccia, A. Pocar, S. Pordes, D.A. Pugachev, H. Qian, K. Randle, G. Ranucci, M. Razeti, A. Razeto, B. Reinhold, A.L. Renshaw, M. Rescigno, Q. Riffard, A. Romani, B. Rossi, N. Rossi, D. Rountree, D. Sablone, P. Saggese, W. Sands, C. Savarese, B. Schlitzer, E. Segreto, D.A. Semenov, E. Shields, P.N. Singh, M.D. Skorokhvatov, O. Smirnov, A. Sotnikov, C. Stanford, Y. Suvorov, R. Tartaglia, J. Tatarowicz, G. Testera, A. Tonazzo, P. Trinchese, E.V. Unzhakov, M. Verducci, A. Vishneva, B. Vogelaar, M. Wada, S. Walker, H. Wang, Y. Wang, A.W. Watson, S. Westerdale, J. Wilhelmi, M.M. Wojcik, X. Xiang, X. Xiao, J. Xu, C. Yang, W. Zhong, C. Zhu, G. Zuzel. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 12:1(2017), pp. P01021.1-P01021.6. [10.1088/1748-0221/12/01/P01021]

Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon

Agnes P.;Albuquerque I. F. M.;Alexander T.;Alton A. K.;Asner D. M.;Back H. O.;Baldin B.;Biery K.;Bocci V.;Bonfini G.;Bonivento W.;Bossa M.;Bottino B.;Brigatti A.;Brodsky J.;Budano F.;Bussino S.;Cadeddu M.;Cadoni M.;Calaprice F.;Canci N.;Candela A.;Caravati M.;Cariello M.;Carlini M.;Catalanotti S.;Cavalcante P.;Chepurnov A.;Cicalo C.;Cocco A. G.;Covone G.;D. D'Angelo;D'Incecco M.;Davini S.;Cecco S. D.;Deo M. D.;Vincenzi M. D.;Derbin A.;Devoto A.;Eusanio F. D.;Pietro G. D.;Dionisi C.;Edkins E.;Empl A.;Fan A.;Fiorillo G.;Fomenko K.;Forster G.;Franco D.;Gabriele F.;Galbiati C.;Giagu S.;Giganti C.;Giovanetti G. K.;Goretti A. M.;Granato F.;Gromov M.;Guan M.;Guardincerri Y.;Hackett B. R.;Herner K.;Hughes D.;Humble P.;Hungerford E. V.;Ianni A.;James I.;Johnson T. N.;Jollet C.;Keeter K.;Kendziora C. L.;Koh G.;Korablev D.;Korga G.;Kubankin A.;Li X.;Lissia M.;Loer B.;Lombardi P.;Longo G.;Ma Y.;Machulin I. N.;Mandarano A.;Mari S. M.;Maricic J.;Marini L.;Martoff C. J.;Meregaglia A.;Meyers P. D.;Milincic R.;Miller J. D.;Montanari D.;Monte A.;Mount B. J.;Muratova V. N.;Musico P.;Napolitano J.;Agasson A. N.;Odrowski S.;Oleinik A.;Orsini M.;Ortica F.;Pagani L.;Pallavicini M.;Pantic E.;Parmeggiano S.;Pelczar K.;Pelliccia N.;Pocar A.;Pordes S.;Pugachev D. A.;Qian H.;Randle K.;Ranucci G.;Razeti M.;Razeto A.;Reinhold B.;Renshaw A. L.;Rescigno M.;Riffard Q.;Romani A.;Rossi B.;Rossi N.;Rountree D.;Sablone D.;Saggese P.;Sands W.;Savarese C.;Schlitzer B.;Segreto E.;Semenov D. A.;Shields E.;Singh P. N.;Skorokhvatov M. D.;Smirnov O.;Sotnikov A.;Stanford C.;Suvorov Y.;Tartaglia R.;Tatarowicz J.;Testera G.;Tonazzo A.;Trinchese P.;Unzhakov E. V.;Verducci M.;Vishneva A.;Vogelaar B.;Wada M.;Walker S.;Wang H.;Wang Y.;Watson A. W.;Westerdale S.;Wilhelmi J.;Wojcik M. M.;Xiang X.;Xiao X.;Xu J.;Yang C.;Zhong W.;Zhu C.;Zuzel G.

2017

Abstract

Measurements were made of scintillation light yield of alpha particles from the222Rn decay chain within the DarkSide-50 liquid argon time projection chamber. The light yield was found to increase as the applied electric field increased, with alphas in a 200 V/cm electric field exhibiting a â¼2% increase in light yield compared to alphas in no field.

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	Parole chiave
	
			Time projection chambers; Large detector systems for particle and astroparticle physics; Dark Matter detectors (WIMPs, axions, etc.)
		
	Settori scientifico-disciplinari dell'articolo
	
			Settore FIS/01 - Fisica Sperimentale
Settore FIS/04 - Fisica Nucleare e Subnucleare
		
	Data di pubblicazione
	
			2017
		
	Rivista in ANCE
	
			JOURNAL OF INSTRUMENTATION
		
	DOI
	
			https://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/12/01/P01021
		
	Tipologia
	
			Article (author)
		
	Appare nelle tipologie:
	
			01 - Articolo su periodico

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