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Capacitance Spectroscopy in Single-Charge Devices / A. Crippa, V. TAGLIAFERRI Marco Lorenzo, E. Prati - In: Capacitance Spectroscopy of Semiconductors / [a cura di] J.V. Li, G. Ferrari. - [s.l] : Jenny Stanford Publishing, 2018. - ISBN 978-981-4774-54-3. - pp. 309-345 [10.1201/b22451]

Capacitance Spectroscopy in Single-Charge Devices

E. Prati
Ultimo
2018
No
English
Quantum dots; Single electron; Charge sensing
Settore FIS/03 - Fisica della Materia
Capitolo o Saggio
Esperti anonimi
Pubblicazione scientifica
Capacitance Spectroscopy of Semiconductors
J.V. Li, G. Ferrari
Jenny Stanford Publishing
2018
309
345
37
978-981-4774-54-3
Volume a diffusione internazionale
miur
MIUR-MANUAL
WOS:000623676800012
NON aderisco
A. Crippa, V. TAGLIAFERRI Marco Lorenzo, E. Prati
Book Part (author)
none
268
Capacitance Spectroscopy in Single-Charge Devices / A. Crippa, V. TAGLIAFERRI Marco Lorenzo, E. Prati - In: Capacitance Spectroscopy of Semiconductors / [a cura di] J.V. Li, G. Ferrari. - [s.l] : Jenny Stanford Publishing, 2018. - ISBN 978-981-4774-54-3. - pp. 309-345 [10.1201/b22451]
info:eu-repo/semantics/bookPart
3
Prodotti della ricerca::03 - Contributo in volume
03 - Contributo in volume
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