Experimental Realization of a Topological p-n Junction by Intrinsic Defect Grading / T. Bathon, S. Achilli, P. Sessi, V.A. Golyashov, K.A. Kokh, O.E. Tereshchenko, M. Bode. - In: ADVANCED MATERIALS. - ISSN 1521-4095. - :28(2016), pp. 2183-2188. [10.1002/adma.201504771]
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