Semiconducting and electrical properties of thin hybrid films from pyrrolyl- and anilynyl-silicon precursors

Trueba, M.; Trasatti, S.P.

doi:10.1016/j.matchemphys.2018.06.042

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The semiconducting and electrical properties of as-deposited and ex-situ irradiated hybrid films on FTO and enriched in Cu 2024-T3 Al alloy substrates, using hydrolyzed solutions of pyrrolyl- (PySi) and anilinyl-silicon (AnSi) compounds, were investigated by means of photocurrent (PCS) and electrochemical impedance (EIS) spectroscopies. AnSi based film is p-type semiconducting while PySi is n-type due to OH-π interactions and charge pinning by silanol (SiOH). The electrical properties depend on the extent and nature of donor-acceptor complexes developed in solution, as well as on the propensity towards Cu+(π-ligand) coordination during the surface treatment step. The aniline derivative is more prone to Cu-π(N) complexation, which imparts stability to the buried interface. This, however, turns reactive in the presence of aggressive Cl− due to displacement reactions as the penetration of these species throughout the p-type semiconducting AnSi films is facilitated, contrariwise to the n-type PySi film.

Titolo:	Semiconducting and electrical properties of thin hybrid films from pyrrolyl- and anilynyl-silicon precursors
Autori:	TRUEBA, MONICA (Primo) (Corresponding) TRASATTI, STEFANO PIERPAOLO MARCELLO (Ultimo)
Parole Chiave:	corrosion protection; electrical properties; organic-inorganic hybrid films; semiconducting properties;
Settore Scientifico Disciplinare:	Settore ING-IND/23 - Chimica Fisica Applicata Settore ING-IND/22 - Scienza e Tecnologia dei Materiali
Data di pubblicazione:	15-set-2018
Rivista:	MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS
Tipologia:	Article (author)
Digital Object Identifier (DOI):	10.1016/j.matchemphys.2018.06.042
Appare nelle tipologie:	01 - Articolo su periodico

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http://hdl.handle.net/2434/623982

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