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Tecniche speckle per metrologia industriale / M. Giglio. ((Intervento presentato al convegno Elettroottica tenutosi a Milano nel 2008.

Tecniche speckle per metrologia industriale

M. Giglio
Primo
2008
10-giu-2008
Settore FIS/03 - Fisica della Materia
CESI
Tecniche speckle per metrologia industriale / M. Giglio. ((Intervento presentato al convegno Elettroottica tenutosi a Milano nel 2008.
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