X-ray Absorption Resonance Spectroscopy and SEXAFS of Metal-Semiconductor and Metal-Metal Interface Systems / G. Rossi, D. Chandesris, P. Roubin, A.J. Lecante. - In: VUOTO. - ISSN 0391-3155. - (1986).

X-ray Absorption Resonance Spectroscopy and SEXAFS of Metal-Semiconductor and Metal-Metal Interface Systems

G. Rossi
Primo
;
1986

English
Settore FIS/03 - Fisica della Materia
Articolo
Sì, ma tipo non specificato
Ricerca di base
Pubblicazione scientifica
1986
Pubblicato
Periodico con rilevanza nazionale
Aderisco
info:eu-repo/semantics/article
X-ray Absorption Resonance Spectroscopy and SEXAFS of Metal-Semiconductor and Metal-Metal Interface Systems / G. Rossi, D. Chandesris, P. Roubin, A.J. Lecante. - In: VUOTO. - ISSN 0391-3155. - (1986).
none
Prodotti della ricerca::01 - Articolo su periodico
4
262
Article (author)
no
G. Rossi, D. Chandesris, P. Roubin, A.J. Lecante
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2434/555343
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact