X-ray Absorption Resonance Spectroscopy and SEXAFS of Metal-Semiconductor and Metal-Metal Interface Systems / G. Rossi, D. Chandesris, P. Roubin, A.J. Lecante. - In: VUOTO. - ISSN 0391-3155. - (1986).
X-ray Absorption Resonance Spectroscopy and SEXAFS of Metal-Semiconductor and Metal-Metal Interface Systems
G. RossiPrimo
;
1986
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.