Summary Abstract: The Si(111)/Mo interface as studied with synchrotron radiation photoemission and Auger electron spectroscopies / G. Rossi, I. Abbati, L. Braicovich, I. Lindau, W.E. Spicer. - In: THE JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0022-5355. - 21:2(1982), pp. 617-618. [10.1116/1.571798]
Summary Abstract: The Si(111)/Mo interface as studied with synchrotron radiation photoemission and Auger electron spectroscopies
G. RossiPrimo
;
1982
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in AIR sono rilasciati con licenza CCO mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza CC BY-SA, salvo diversa indicazione. In caso di violazione di copyright, contattare l'assistenza di AIR
