Summary Abstract: The Si(111)/Mo interface as studied with synchrotron radiation photoemission and Auger electron spectroscopies / G. Rossi, I. Abbati, L. Braicovich, I. Lindau, W.E. Spicer. - In: THE JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0022-5355. - 21:2(1982), pp. 617-618. [10.1116/1.571798]

Summary Abstract: The Si(111)/Mo interface as studied with synchrotron radiation photoemission and Auger electron spectroscopies

G. Rossi
Primo
;
1982

Settore FIS/03 - Fisica della Materia
1982
Article (author)
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2434/555339
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 23
social impact