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Calibration procedure for an optical thickness measurement : a case study / S. Spadoni, G. Garatti, D. Lodi, I. Veronese, D. Zappa - In: Proceedings of the international conference on modeling and analysis of semiconductor
manufacturing : MASM 2002 : April 10-12, 2002, Wyndham Buttes Resort, Tempe, ArizonaSan Diego : Society for computer simulation international, 2002. - pp. 335-340 (( convegno International conference on modeling and analysis of semiconductor manufacturing : MASM tenutosi a Tempe (Arizona) nel 2002.
Calibration procedure for an optical thickness measurement : a case study
S. Spadoni;G. Garatti;D. Lodi;I. Veronese;D. Zappa
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/2434/224555
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2018-2020 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
