Balanced redundancy utilization in embedded memory cores for dependable systems / M. Choi, N. Park, F. Lombardi, Y. Kim, V. Piuri - In: 17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002. DFT 2002. Proceedings.[s.l] : IEEE, 2002. - ISBN 0-7695-1831-1. - pp. 419-427 [10.1109/DFTVS.2002.1173540]
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