IRIS Institutional Research Information System - AIR Archivio Istituzionale della Ricerca
IRIS è il sistema di gestione integrata dei dati della ricerca (persone, progetti, pubblicazioni, attività) adottato dall'Università degli Studi di Milano.
AIR nasce in UNIMI nel 2006 con lo scopo di raccogliere, documentare e conservare le informazioni sulla produzione scientifica dell'Università degli Studi di Milano e costituisce di fatto l'Anagrafe della ricerca dell'Ateneo.
EnglishIl metodo tradizionalmente utilizzato per ottenere la stratigrafia della stesura in un’opera pittoriche è l’osservazione al microscopio ottico di un microprelievo. Recentemente l’utilizzo di tecniche IBA (PIXE a energia variabile) ha eliminato la necessità di microprelievi, ma è comunque impossibile operare analisi in situ. Informazioni quantitative sulle sequenze stratigrafiche sono invece ottenibili associando l’analisi EDXRF e la spettroscopia in riflettanza vis-NIR, entrambe effettuabili con strumentazione portatile. L’analisi XRF permette, infatti, di determinare gli elementi chimici di tutti gli strati pittorici fino a quello della preparazione, mentre lo spettro di riflettanza permette di riconoscere la natura dello strato superficiale. Si presentano applicazioni su due opere di Andrea Mantenga: “Madonna col bambino e un coro di cherubini” e “Pala di S. Zeno”.
Determinazione non invasiva in situ degli spessori di strati pittorici sulla base dell’analisi EDXRF e della spettroscopia vis-NIR / L.M. Bonizzoni, A. Galli, G. Poldi, M. M. Milazzo. ((Intervento presentato al 93. convegno Congresso nazionale della Società Italiana di Fisica tenutosi a Pisa nel 2007.
| Titolo: | Determinazione non invasiva in situ degli spessori di strati pittorici sulla base dell’analisi EDXRF e della spettroscopia vis-NIR |
| Autori: | BONIZZONI, LETIZIA MARIA (Primo) MILAZZO, MARIO MARCELLO (Ultimo) |
| Data di pubblicazione: | 2007 |
| Settore Scientifico Disciplinare: | Settore FIS/07 - Fisica Applicata(Beni Culturali, Ambientali, Biol.e Medicin) |
| Tipologia: | Conference Object |
| Citazione: | Determinazione non invasiva in situ degli spessori di strati pittorici sulla base dell’analisi EDXRF e della spettroscopia vis-NIR / L.M. Bonizzoni, A. Galli, G. Poldi, M. M. Milazzo. ((Intervento presentato al 93. convegno Congresso nazionale della Società Italiana di Fisica tenutosi a Pisa nel 2007. |
| Appare nelle tipologie: | 14 - Intervento a convegno non pubblicato |
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