Affidabilità di componenti elettronici a temperatura criogenica / A. Andreani, M. Lazzaroni, V. Trabattoni, A. Zani - In: VIII Forum Nazionale delle Misure 2024Prima edizione. - Benevento : Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche (GMEE), 2024 Sep. - ISBN 978-88-942753-3-9. - pp. 319-320 (( Intervento presentato al 8. convegno XLI Congresso Nazionale di Misure Elettriche ed Elettroniche : XXXII Congresso Nazionale di Misure Meccaniche e Termiche : 12 - 14 settembre tenutosi a San VIncenzo (Livorno) nel 2024.
Affidabilità di componenti elettronici a temperatura criogenica
A. AndreaniPrimo
;M. LazzaroniSecondo
;V. TrabattoniPenultimo
;
2024
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
Articolo 1 GMEE 2024.pdf
accesso riservato
Descrizione: Articolo pubblicato negli Atti
Tipologia:
Publisher's version/PDF
Dimensione
2.3 MB
Formato
Adobe PDF
|
2.3 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.