La presente invenzione si riferisce ad un metodo per la effettuazione di ispezioni non invasive di oggetti mediante raggi X, comprendente i seguenti passaggi:  fornire almeno una sorgente di raggi X che emetta un fascio policromatico collimato mediante un collimatore primario ed incidente sull’oggetto in esame secondo un angolo predefinito ;  fornire almeno un rivelatore di raggi X, costituito da più elementi spaziali disposti secondo una matrice avente almeno una riga, che intercetti la radiazione modificata dall’oggetto in esame e produca, per ogni elemento, dati di attenuazione associati ad almeno due bande di energia predefinite ;  fornire un elaboratore che elabori i dati acquisiti dall’almeno un rivelatore e ricostruisca immagini radiografiche degli oggetti sotto esame nonché informazioni relative al loro volume e composizione ; La invenzione si riferisce inoltre ad un sistema configurato per realizzare il metodo.

Sistema e metodo per la ispezione a raggi x e la identificazione della composizione chimica dei materiali / G. Rotondo, P. Pozzi, N.A. Borghese.

Sistema e metodo per la ispezione a raggi x e la identificazione della composizione chimica dei materiali

N.A. Borghese
Ultimo
2012

Abstract

La presente invenzione si riferisce ad un metodo per la effettuazione di ispezioni non invasive di oggetti mediante raggi X, comprendente i seguenti passaggi:  fornire almeno una sorgente di raggi X che emetta un fascio policromatico collimato mediante un collimatore primario ed incidente sull’oggetto in esame secondo un angolo predefinito ;  fornire almeno un rivelatore di raggi X, costituito da più elementi spaziali disposti secondo una matrice avente almeno una riga, che intercetti la radiazione modificata dall’oggetto in esame e produca, per ogni elemento, dati di attenuazione associati ad almeno due bande di energia predefinite ;  fornire un elaboratore che elabori i dati acquisiti dall’almeno un rivelatore e ricostruisca immagini radiografiche degli oggetti sotto esame nonché informazioni relative al loro volume e composizione ; La invenzione si riferisce inoltre ad un sistema configurato per realizzare il metodo.
Alta-Lab
ITMI2010A001269
MI2010A001269
10-gen-2012
Multi-band X-ray. Inspection systems
Settore INF/01 - Informatica
Sistema e metodo per la ispezione a raggi x e la identificazione della composizione chimica dei materiali / G. Rotondo, P. Pozzi, N.A. Borghese.
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