Branching fraction and charge asymmetry measurements in B -> J/psi pi pi decays

Aubert, B.; Barate, R.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J.P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Pompili, A.; Chen, J.C.; N. D., Q.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y.S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G.S.; Battaglia, M.; Breon, A.B.; Brown, D.N.; Button Shafer, J.; Cahn, R.N.; Charles, E.; Day, C.T.; Gill, M.S.; Gritsan, A.V.; Groysman, Y.; Jacobsen, R.G.; Kadyk, J.; Kerth, L.T.; Kolomensky, Y.U.G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L.M.; Oddone, P.J.; Orimoto, T.J.; Pripstein, M.; Roe, N.A.; Ronan, M.T.; Wenzel, W.A.; Barrett, M.; Ford, K.E.; Harrison, T.J.; Hart, A.J.; Hawkes, C.M.; Morgan, S.E.; Watson, A.T.; Fritsch, M.; Goetzen, K.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J.T.; Burke, J.P.; Chevalier, N.; Cottingham, W.N.; Kelly, M.P.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B.G.; Hearty, C.; Knecht, N.S.; Mattison, T.S.; Mckenna, J.A.; Khan, A.; Kyberd, P.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, A.E.; Blinov, V.E.; Bukin, A.D.; Druzhinin, V.P.; Golubev, V.B.; Kravchenko, E.A.; Onuchin, A.P.; Serednyakov, S.I.; Skovpen, Y.U.I.; Solodov, E.P.; Best, D.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.J.; Mandelkern, M.; Mommsen, R.K.; Roethel, W.; Stoker, D.P.; Buchanan, C.; Hartfiel, B.L.; Foulkes, S.D.; Gary, J.W.; Long, O.; Shen, B.C.; Wang, K.; Zhang, L.; del Re, D.; Hadavand, H.K.; Hill, E.J.; Macfarlane, D.B.; Paar, H.P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J.W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T.M.; Mazur, M.A.; Richman, J.D.; Verkerke, W.; Beck, T.W.; Eisner, A.M.; Flacco, C.J.; Heusch, C.A.; Kroseberg, J.; Lockman, W.S.; Nesom, G.; Schalk, T.; Schumm, B.A.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D.C.; Wilson, M.G.; Albert, J.; Dubois Felsmann, G.P.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D.G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Andreassen, R.; Jayatilleke, S.; Mancinelli, G.; Meadows, B.T.; Sokoloff, M.D.; Blanc, F.; Bloom, P.; Chen, S.; Ford, W.T.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Rankin, P.; Ruddick, W.O.; Smith, J.G.; Ulmer, K.A.; Wagner, S.R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E.A.; Soffer, A.; Toki, W.H.; Wilson, R.J.; Zeng, Q.; Altenburg, D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Spaan, B.; Brandt, T.; Brose, J.; Dickopp, M.; Klose, V.; Lacker, H.M.; Nogowski, R.; Otto, S.; Petzold, A.; Schott, G.; Schubert, J.; Schubert, K.R.; Schwierz, R.; Sundermann, J.E.; Bernard, D.; Bonneaud, G.R.; Grenier, P.; Schrenk, S.; Thiebaux, C.H.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Bard, D.J.; Clark, P.J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Azzolini, V.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Piemontese, L.; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Peruzzi, I.M.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Bailey, S.; Brandenburg, G.; Chaisanguanthum, K.S.; Morii, M.; Won, E.; Wu, J.; Dubitzky, R.S.; Langenegger, U.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D.A.; Dauncey, P.D.; Egede, U.; Flack, R.L.; Gaillard, J.R.; Morton, G.W.; Nash, J.A.; Nikolich, M.B.; Taylor, G.P.; Vazquez, W.P.; Charles, M.J.; Mader, W.F.; Mallik, U.; Mohapatra, A.K.; Cochran, J.; Crawley, H.B.; Eyges, V.; Meyer, W.T.; Prell, S.; Rosenberg, E.I.; Rubin, A.E.; Yi, J.; Arnaud, N.; Davier, M.; Giroux, X.; Grosdidier, G.; H¬®ocker, A.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.M.; Oyanguren, A.; Petersen, T.C.; Pierini, M.; Plaszczynski, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M.H.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Cheng, C.H.; Lange, D.J.; Simani, M.C.; Wright, D.M.; Bevan, A.J.; Chavez, C.A.; Coleman, J.P.; Forster, I.J.; Fry, J.R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, K.A.; Hutchcroft, D.E.; Parry, R.J.; Payne, D.J.; Schofield, K.C.; Touramanis, C.; Cormack, C.M.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Brown, C.L.; Cowan, G.; Flaecher, H.U.; Green, M.G.; Hopkins, D.A.; Jackson, P.S.; Mcmahon, T.R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Brown, D.; Davis, C.L.; Allison, J.; Barlow, N.R.; Barlow, R.J.; Hodgkinson, M.C.; Lafferty, G.D.; Naisbit, M.T.; Williams, J.C.; Chen, C.; Farbin, A.; Hulsbergen, W.D.; Jawahery, A.; Kovalskyi, D.; Lae, C.K.; Lillard, V.; Roberts, D.A.; Simi, G.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S.S.; Kofler, R.; Koptchev, V.B.; Li, X.; Moore, T.B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S.; Cowan, R.; Koeneke, K.; Sciolla, G.; Sekula, S.J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.K.; Kim, H.; Patel, P.M.; Robertson, S.H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J.M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D.A.; Summers, D.J.; Zhao, H.W.; Brunet, S.; Cot¬¥e, D.; Taras, P.; Viaud, B.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Bulten, H.; Raven, G.; Snoek, H.L.; Wilden, L.; Jessop, C.P.; Losecco, J.M.; Allmendinger, T.; Benelli, G.; Gan, K.K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Jackson, P.D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Rahimi, A.M.; Ter Antonyan, R.; Wong, Q.K.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Lu, M.; Potter, C.T.; Sinev, N.B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Dorigo, A.; Galeazzi, F.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; de la Vaissi`ere, C.H.; Hamon, O.; John, M.J.J.; Leruste, P.H.; Malcl`es, J.; Ocariz, J.; Roos, L.; Therin, G.; Behera, P.K.; Gladney, L.; Guo, Q.H.; Panetta, J.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Pacetti, S.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M.A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Wagoner, D.E.; Biesiada, J.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y.P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.J.S.; Telnov, A.V.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D‚ÄôOrazio, A.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Safai Tehrani, F.; Voena, C.; Schr¬®oder, H.; Wagner, G.; Waldi, R.; Adye, T.; De Groot, N.; Franek, B.; Gopal, G.P.; Olaiya, E.O.; Wilson, F.F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S.F.; Giraud, P.F.; Graziani, G.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Legendre, M.; London, G.W.; Mayer, B.; Vasseur, G.; Y`eche, C.H.; Zito, M.; Purohit, M.V.; Weidemann, A.W.; Wilson, J.R.; Yumiceva, F.X.; Abe, T.; Allen, M.T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Berger, N.; Boyarski, A.M.; Buchmueller, O.L.; Claus, R.; Convery, M.R.; Cristinziani, M.; Dingfelder, J.C.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Fan, S.; Field, R.C.; Glanzman, T.; Gowdy, S.J.; Hadig, T.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn‚Äôova, T.; Innes, W.R.; Kelsey, M.H.; Kim, P.; Leith, D.W.G.S.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.L.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.R.; O‚ÄôGrady, C.P.; Ozcan, V.E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B.N.; Roodman, A.; Salnikov, A.A.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M.K.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.M.; Va‚Äôvra, J.; Weaver, M.; Weinstein, A.J.R.; Wisniewski, W.J.; Wittgen, M.; Wright, D.H.; Yarritu, A.K.; Yi, K.; Young, C.C.; Burchat, P.R.; Edwards, A.J.; Majewski, S.A.; Petersen, B.A.; Roat, C.; Ahmed, M.; Ahmed, S.; Alam, M.S.; Ernst, J.A.; Saeed, M.A.; Wappler, F.R.; Zain, S.B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S.M.; Eck, R.; Ritchie, J.L.; Satpathy, A.; Schwitters, R.F.; Izen, J.M.; Kitayama, I.; Lou, X.C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Bona, M.; Gallo, F.; Gamba, D.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez Vidal, F.; Panvini, R.S.; Banerjee, S.W.; Bhuyan, B.; Brown, C.M.; Fortin, D.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Roney, J.M.; Sobie, R.J.; Back, J.J.; Harrison, P.F.; Latham, T.E.; Mohanty, G.B.; Band, H.R.; Chen, X.; Cheng, B.; Datta, M.; Eichenbaum, A.M.; Graham, K.T.F.M.; Hollar, J.J.; Johnson, J.R.; Kutter, P.E.; Li, H.; Liu, R.; Mellado, B.; Mihalyi, A.; Pan, Y.; Prepost, R.; Tan, P.; von Wimmersperg Toeller, J.H.; S. L., W.; Yu, Z.; Neal, H.

doi:10.1103/PhysRevD.76.031101

We study the decays B0 to J/psi pi+pi- and B+ to J/psi pi+pi0, including intermediate resonances, using a sample of 382 million BBbar pairs recorded by the BaBar detector at the PEP-II e+e- B factory. We measure the branching fractions B(B0 ->J/psi rho0) = (2.7 +/- 0.3 +/- 0.17) x 10-5 and B(B+ ->J/psi rho+) = (5.0 +/- 0.7 +/-0.31) x 10-5. We also set the following upper limits at the 90% confidence level: B(B0 -> J/psi pi+ \pi- non-resonant) < 1.2 x 10-5, B(B0 -> J/psi f_2(1270)) < 4.6 x 10-6, and B(B+ -> J/psi pi+ pi0 non-resonant) < 4.4 x 10-6. We measure the charge asymmetry in charged B decays to J/psi rho to be -0.11 +/- 0.12 +/- 0.08

Branching fraction and charge asymmetry measurements in B -> J/psi pi pi decays / B. Aubert, R. Barate, D. Boutigny, F. Couderc, Y. Karyotakis, J.P. Lees, V. Poireau, V. Tisserand, A. Zghiche, E. Grauges, A. Palano, M. Pappagallo, A. Pompili, J.C. Chen, N.D. Qi, G. Rong, P. Wang, Y.S. Zhu, G. Eigen, I. Ofte, B. Stugu, G.S. Abrams, M. Battaglia, A.B. Breon, D.N. Brown, J. Button Shafer, R.N. Cahn, E. Charles, C.T. Day, M.S. Gill, A.V. Gritsan, Y. Groysman, R.G. Jacobsen, J. Kadyk, L.T. Kerth, Y.U.G. Kolomensky, G. Kukartsev, G. Lynch, L.M. Mir, P.J. Oddone, T.J. Orimoto, M. Pripstein, N.A. Roe, M.T. Ronan, W.A. Wenzel, M. Barrett, K.E. Ford, T.J. Harrison, A.J. Hart, C.M. Hawkes, S.E. Morgan, A.T. Watson, M. Fritsch, K. Goetzen, H. Koch, B. Lewandowski, M. Pelizaeus, K. Peters, T. Schroeder, M. Steinke, J.T. Boyd, J.P. Burke, N. Chevalier, W.N. Cottingham, M.P. Kelly, T. Cuhadar Donszelmann, B.G. Fulsom, C. Hearty, N.S. Knecht, T.S. Mattison, J.A. Mckenna, A. Khan, P. Kyberd, M. Saleem, L. Teodorescu, A.E. Blinov, V.E. Blinov, A.D. Bukin, V.P. Druzhinin, V.B. Golubev, E.A. Kravchenko, A.P. Onuchin, S.I. Serednyakov, Y.U.I. Skovpen, E.P. Solodov, D. Best, M. Bondioli, M. Bruinsma, M. Chao, I. Eschrich, D. Kirkby, A.J. Lankford, M. Mandelkern, R.K. Mommsen, W. Roethel, D.P. Stoker, C. Buchanan, B.L. Hartfiel, S.D. Foulkes, J.W. Gary, O. Long, B.C. Shen, K. Wang, L. Zhang, D. del Re, H.K. Hadavand, E.J. Hill, D.B. Macfarlane, H.P. Paar, S. Rahatlou, V. Sharma, J.W. Berryhill, C. Campagnari, A. Cunha, B. Dahmes, T.M. Hong, M.A. Mazur, J.D. Richman, W. Verkerke, T.W. Beck, A.M. Eisner, C.J. Flacco, C.A. Heusch, J. Kroseberg, W.S. Lockman, G. Nesom, T. Schalk, B.A. Schumm, A. Seiden, P. Spradlin, D.C. Williams, M.G. Wilson, J. Albert, G.P. Dubois Felsmann, A. Dvoretskii, D.G. Hitlin, I. Narsky, T. Piatenko, F.C. Porter, A. Ryd, A. Samuel, R. Andreassen, S. Jayatilleke, G. Mancinelli, B.T. Meadows, M.D. Sokoloff, F. Blanc, P. Bloom, S. Chen, W.T. Ford, U. Nauenberg, A. Olivas, P. Rankin, W.O. Ruddick, J.G. Smith, K.A. Ulmer, S.R. Wagner, J. Zhang, A. Chen, E.A. Eckhart, A. Soffer, W.H. Toki, R.J. Wilson, Q. Zeng, D. Altenburg, E. Feltresi, A. Hauke, B. Spaan, T. Brandt, J. Brose, M. Dickopp, V. Klose, H.M. Lacker, R. Nogowski, S. Otto, A. Petzold, G. Schott, J. Schubert, K.R. Schubert, R. Schwierz, J.E. Sundermann, D. Bernard, G.R. Bonneaud, P. Grenier, S. Schrenk, C.H. Thiebaux, G. Vasileiadis, M. Verderi, D.J. Bard, P.J. Clark, W. Gradl, F. Muheim, S. Playfer, Y. Xie, M. Andreotti, V. Azzolini, D. Bettoni, C. Bozzi, R. Calabrese, G. Cibinetto, E. Luppi, M. Negrini, L. Piemontese, F. Anulli, R. Baldini Ferroli, A. Calcaterra, R. de Sangro, G. Finocchiaro, P. Patteri, I.M. Peruzzi, M. Piccolo, A. Zallo, A. Buzzo, R. Capra, R. Contri, M. Lo Vetere, M. Macri, M.R. Monge, S. Passaggio, C. Patrignani, E. Robutti, A. Santroni, S. Tosi, S. Bailey, G. Brandenburg, K.S. Chaisanguanthum, M. Morii, E. Won, J. Wu, R.S. Dubitzky, U. Langenegger, J. Marks, S. Schenk, U. Uwer, W. Bhimji, D.A. Bowerman, P.D. Dauncey, U. Egede, R.L. Flack, J.R. Gaillard, G.W. Morton, J.A. Nash, M.B. Nikolich, G.P. Taylor, W.P. Vazquez, M.J. Charles, W.F. Mader, U. Mallik, A.K. Mohapatra, J. Cochran, H.B. Crawley, V. Eyges, W.T. Meyer, S. Prell, E.I. Rosenberg, A.E. Rubin, J. Yi, N. Arnaud, M. Davier, X. Giroux, G. Grosdidier, A. H¬®ocker, F. Le Diberder, V. Lepeltier, A.M. Lutz, A. Oyanguren, T.C. Petersen, M. Pierini, S. Plaszczynski, S. Rodier, P. Roudeau, M.H. Schune, A. Stocchi, G. Wormser, C.H. Cheng, D.J. Lange, M.C. Simani, D.M. Wright, A.J. Bevan, C.A. Chavez, J.P. Coleman, I.J. Forster, J.R. Fry, E. Gabathuler, R. Gamet, K.A. George, D.E. Hutchcroft, R.J. Parry, D.J. Payne, K.C. Schofield, C. Touramanis, C.M. Cormack, F. Di Lodovico, R. Sacco, C.L. Brown, G. Cowan, H.U. Flaecher, M.G. Green, D.A. Hopkins, P.S. Jackson, T.R. Mcmahon, S. Ricciardi, F. Salvatore, D. Brown, C.L. Davis, J. Allison, N.R. Barlow, R.J. Barlow, M.C. Hodgkinson, G.D. Lafferty, M.T. Naisbit, J.C. Williams, C. Chen, A. Farbin, W.D. Hulsbergen, A. Jawahery, D. Kovalskyi, C.K. Lae, V. Lillard, D.A. Roberts, G. Simi, G. Blaylock, C. Dallapiccola, S.S. Hertzbach, R. Kofler, V.B. Koptchev, X. Li, T.B. Moore, S. Saremi, H. Staengle, S. Willocq, R. Cowan, K. Koeneke, G. Sciolla, S.J. Sekula, M. Spitznagel, F. Taylor, R.K. Yamamoto, H. Kim, P.M. Patel, S.H. Robertson, A. Lazzaro, V. Lombardo, F. Palombo, J.M. Bauer, L. Cremaldi, V. Eschenburg, R. Godang, R. Kroeger, J. Reidy, D.A. Sanders, D.J. Summers, H.W. Zhao, S. Brunet, D. Cot¬¥e, P. Taras, B. Viaud, H. Nicholson, N. Cavallo, G. De Nardo, F. Fabozzi, C. Gatto, L. Lista, D. Monorchio, P. Paolucci, D. Piccolo, C. Sciacca, M. Baak, H. Bulten, G. Raven, H.L. Snoek, L. Wilden, C.P. Jessop, J.M. Losecco, T. Allmendinger, G. Benelli, K.K. Gan, K. Honscheid, D. Hufnagel, P.D. Jackson, H. Kagan, R. Kass, T. Pulliam, A.M. Rahimi, R. Ter Antonyan, Q.K. Wong, J. Brau, R. Frey, O. Igonkina, M. Lu, C.T. Potter, N.B. Sinev, D. Strom, J. Strube, E. Torrence, A. Dorigo, F. Galeazzi, M. Margoni, M. Morandin, M. Posocco, M. Rotondo, F. Simonetto, R. Stroili, C. Voci, M. Benayoun, H. Briand, J. Chauveau, P. David, L. Del Buono, C.H. de la Vaissi`ere, O. Hamon, M.J.J. John, P.H. Leruste, J. Malcl`es, J. Ocariz, L. Roos, G. Therin, P.K. Behera, L. Gladney, Q.H. Guo, J. Panetta, M. Biasini, R. Covarelli, S. Pacetti, M. Pioppi, C. Angelini, G. Batignani, S. Bettarini, F. Bucci, G. Calderini, M. Carpinelli, R. Cenci, F. Forti, M.A. Giorgi, A. Lusiani, G. Marchiori, M. Morganti, N. Neri, E. Paoloni, M. Rama, G. Rizzo, J. Walsh, M. Haire, D. Judd, D.E. Wagoner, J. Biesiada, N. Danielson, P. Elmer, Y.P. Lau, C. Lu, J. Olsen, A.J.S. Smith, A.V. Telnov, F. Bellini, G. Cavoto, A. D‚ÄôOrazio, E. Di Marco, R. Faccini, F. Ferrarotto, F. Ferroni, M. Gaspero, L. Li Gioi, M.A. Mazzoni, S. Morganti, G. Piredda, F. Polci, F. Safai Tehrani, C. Voena, H. Schr¬®oder, G. Wagner, R. Waldi, T. Adye, N. De Groot, B. Franek, G.P. Gopal, E.O. Olaiya, F.F. Wilson, R. Aleksan, S. Emery, A. Gaidot, S.F. Ganzhur, P.F. Giraud, G. Graziani, G. Hamel de Monchenault, W. Kozanecki, M. Legendre, G.W. London, B. Mayer, G. Vasseur, C.H. Y`eche, M. Zito, M.V. Purohit, A.W. Weidemann, J.R. Wilson, F.X. Yumiceva, T. Abe, M.T. Allen, D. Aston, R. Bartoldus, N. Berger, A.M. Boyarski, O.L. Buchmueller, R. Claus, M.R. Convery, M. Cristinziani, J.C. Dingfelder, D. Dong, J. Dorfan, D. Dujmic, W. Dunwoodie, S. Fan, R.C. Field, T. Glanzman, S.J. Gowdy, T. Hadig, V. Halyo, C. Hast, T. Hryn‚Äôova, W.R. Innes, M.H. Kelsey, P. Kim, D.W.G.S. Leith, J. Libby, S. Luitz, V. Luth, H.L. Lynch, H. Marsiske, R. Messner, D.R. Muller, C.P. O‚ÄôGrady, V.E. Ozcan, A. Perazzo, M. Perl, B.N. Ratcliff, A. Roodman, A.A. Salnikov, J. Schwiening, A. Snyder, J. Stelzer, D. Su, M.K. Sullivan, K. Suzuki, S. Swain, J.M. Thompson, J. Va‚Äôvra, M. Weaver, A.J.R. Weinstein, W.J. Wisniewski, M. Wittgen, D.H. Wright, A.K. Yarritu, K. Yi, C.C. Young, P.R. Burchat, A.J. Edwards, S.A. Majewski, B.A. Petersen, C. Roat, M. Ahmed, S. Ahmed, M.S. Alam, J.A. Ernst, M.A. Saeed, F.R. Wappler, S.B. Zain, W. Bugg, M. Krishnamurthy, S.M. Spanier, R. Eck, J.L. Ritchie, A. Satpathy, R.F. Schwitters, J.M. Izen, I. Kitayama, X.C. Lou, S. Ye, F. Bianchi, M. Bona, F. Gallo, D. Gamba, M. Bomben, L. Bosisio, C. Cartaro, F. Cossutti, G. Della Ricca, S. Dittongo, S. Grancagnolo, L. Lanceri, L. Vitale, F. Martinez Vidal, R.S. Panvini, S.W. Banerjee, B. Bhuyan, C.M. Brown, D. Fortin, K. Hamano, R. Kowalewski, J.M. Roney, R.J. Sobie, J.J. Back, P.F. Harrison, T.E. Latham, G.B. Mohanty, H.R. Band, X. Chen, B. Cheng, M. Datta, A.M. Eichenbaum, K.T.F.M. Graham, J.J. Hollar, J.R. Johnson, P.E. Kutter, H. Li, R. Liu, B. Mellado, A. Mihalyi, Y. Pan, R. Prepost, P. Tan, J.H. von Wimmersperg Toeller, S.L. Wu, Z. Yu, H. Neal. - In: PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY. - ISSN 1550-7998. - 76:3(2007), pp. 031101.031101.1-031101.031101.9. [10.1103/PhysRevD.76.031101]

Branching fraction and charge asymmetry measurements in B -> J/psi pi pi decays

B. Aubert;R. Barate;D. Boutigny;F. Couderc;Y. Karyotakis;J. P. Lees;V. Poireau;V. Tisserand;A. Zghiche;E. Grauges;A. Palano;M. Pappagallo;A. Pompili;J. C. Chen;N. D. Qi;G. Rong;P. Wang;Y. S. Zhu;G. Eigen;I. Ofte;B. Stugu;G. S. Abrams;M. Battaglia;A. B. Breon;D. N. Brown;J. Button Shafer;R. N. Cahn;E. Charles;C. T. Day;M. S. Gill;A. V. Gritsan;Y. Groysman;R. G. Jacobsen;J. Kadyk;L. T. Kerth;Y.u. G. Kolomensky;G. Kukartsev;G. Lynch;L. M. Mir;P. J. Oddone;T. J. Orimoto;M. Pripstein;N. A. Roe;M. T. Ronan;W. A. Wenzel;M. Barrett;K. E. Ford;T. J. Harrison;A. J. Hart;C. M. Hawkes;S. E. Morgan;A. T. Watson;M. Fritsch;K. Goetzen;H. Koch;B. Lewandowski;M. Pelizaeus;K. Peters;T. Schroeder;M. Steinke;J. T. Boyd;J. P. Burke;N. Chevalier;W. N. Cottingham;M. P. Kelly;T. Cuhadar Donszelmann;B. G. Fulsom;C. Hearty;N. S. Knecht;T. S. Mattison;J. A. McKenna;A. Khan;P. Kyberd;M. Saleem;L. Teodorescu;A. E. Blinov;V. E. Blinov;A. D. Bukin;V. P. Druzhinin;V. B. Golubev;E. A. Kravchenko;A. P. Onuchin;S. I. Serednyakov;Y.u. I. Skovpen;E. P. Solodov;D. Best;M. Bondioli;M. Bruinsma;M. Chao;I. Eschrich;D. Kirkby;A. J. Lankford;M. Mandelkern;R. K. Mommsen;W. Roethel;D. P. Stoker;C. Buchanan;B. L. Hartfiel;S. D. Foulkes;J. W. Gary;O. Long;B. C. Shen;K. Wang;L. Zhang;D. del Re;H. K. Hadavand;E. J. Hill;D. B. MacFarlane;H. P. Paar;S. Rahatlou;V. Sharma;J. W. Berryhill;C. Campagnari;A. Cunha;B. Dahmes;T. M. Hong;M. A. Mazur;J. D. Richman;W. Verkerke;T. W. Beck;A. M. Eisner;C. J. Flacco;C. A. Heusch;J. Kroseberg;W. S. Lockman;G. Nesom;T. Schalk;B. A. Schumm;A. Seiden;P. Spradlin;D. C. Williams;M. G. Wilson;J. Albert;G. P. Dubois Felsmann;A. Dvoretskii;D. G. Hitlin;I. Narsky;T. Piatenko;F. C. Porter;A. Ryd;A. Samuel;R. Andreassen;S. Jayatilleke;G. Mancinelli;B. T. Meadows;M. D. Sokoloff;F. Blanc;P. Bloom;S. Chen;W. T. Ford;U. Nauenberg;A. Olivas;P. Rankin;W. O. Ruddick;J. G. Smith;K. A. Ulmer;S. R. Wagner;J. Zhang;A. Chen;E. A. Eckhart;A. Soffer;W. H. Toki;R. J. Wilson;Q. Zeng;D. Altenburg;E. Feltresi;A. Hauke;B. Spaan;T. Brandt;J. Brose;M. Dickopp;V. Klose;H. M. Lacker;R. Nogowski;S. Otto;A. Petzold;G. Schott;J. Schubert;K. R. Schubert;R. Schwierz;J. E. Sundermann;D. Bernard;G. R. Bonneaud;P. Grenier;S. Schrenk;C.h. Thiebaux;G. Vasileiadis;M. Verderi;D. J. Bard;P. J. Clark;W. Gradl;F. Muheim;S. Playfer;Y. Xie;M. Andreotti;V. Azzolini;D. Bettoni;C. Bozzi;R. Calabrese;G. Cibinetto;E. Luppi;M. Negrini;L. Piemontese;F. Anulli;R. Baldini Ferroli;A. Calcaterra;R. de Sangro;G. Finocchiaro;P. Patteri;I. M. Peruzzi;M. Piccolo;A. Zallo;A. Buzzo;R. Capra;R. Contri;M. Lo Vetere;M. Macri;M. R. Monge;S. Passaggio;C. Patrignani;E. Robutti;A. Santroni;S. Tosi;S. Bailey;G. Brandenburg;K. S. Chaisanguanthum;M. Morii;E. Won;J. Wu;R. S. Dubitzky;U. Langenegger;J. Marks;S. Schenk;U. Uwer;W. Bhimji;D. A. Bowerman;P. D. Dauncey;U. Egede;R. L. Flack;J. R. Gaillard;G. W. Morton;J. A. Nash;M. B. Nikolich;G. P. Taylor;W. P. Vazquez;M. J. Charles;W. F. Mader;U. Mallik;A. K. Mohapatra;J. Cochran;H. B. Crawley;V. Eyges;W. T. Meyer;S. Prell;E. I. Rosenberg;A. E. Rubin;J. Yi;N. Arnaud;M. Davier;X. Giroux;G. Grosdidier;A. H¬®ocker;F. Le Diberder;V. Lepeltier;A. M. Lutz;A. Oyanguren;T. C. Petersen;M. Pierini;S. Plaszczynski;S. Rodier;P. Roudeau;M. H. Schune;A. Stocchi;G. Wormser;C. H. Cheng;D. J. Lange;M. C. Simani;D. M. Wright;A. J. Bevan;C. A. Chavez;J. P. Coleman;I. J. Forster;J. R. Fry;E. Gabathuler;R. Gamet;K. A. George;D. E. Hutchcroft;R. J. Parry;D. J. Payne;K. C. Schofield;C. Touramanis;C. M. Cormack;F. Di Lodovico;R. Sacco;C. L. Brown;G. Cowan;H. U. Flaecher;M. G. Green;D. A. Hopkins;P. S. Jackson;T. R. McMahon;S. Ricciardi;F. Salvatore;D. Brown;C. L. Davis;J. Allison;N. R. Barlow;R. J. Barlow;M. C. Hodgkinson;G. D. Lafferty;M. T. Naisbit;J. C. Williams;C. Chen;A. Farbin;W. D. Hulsbergen;A. Jawahery;D. Kovalskyi;C. K. Lae;V. Lillard;D. A. Roberts;G. Simi;G. Blaylock;C. Dallapiccola;S. S. Hertzbach;R. Kofler;V. B. Koptchev;X. Li;T. B. Moore;S. Saremi;H. Staengle;S. Willocq;R. Cowan;K. Koeneke;G. Sciolla;S. J. Sekula;M. Spitznagel;F. Taylor;R. K. Yamamoto;H. Kim;P. M. Patel;S. H. Robertson;A. Lazzaro;V. Lombardo;F. Palombo;J. M. Bauer;L. Cremaldi;V. Eschenburg;R. Godang;R. Kroeger;J. Reidy;D. A. Sanders;D. J. Summers;H. W. Zhao;S. Brunet;D. Cot¬¥e;P. Taras;B. Viaud;H. Nicholson;N. Cavallo;G. De Nardo;F. Fabozzi;C. Gatto;L. Lista;D. Monorchio;P. Paolucci;D. Piccolo;C. Sciacca;M. Baak;H. Bulten;G. Raven;H. L. Snoek;L. Wilden;C. P. Jessop;J. M. LoSecco;T. Allmendinger;G. Benelli;K. K. Gan;K. Honscheid;D. Hufnagel;P. D. Jackson;H. Kagan;R. Kass;T. Pulliam;A. M. Rahimi;R. Ter Antonyan;Q. K. Wong;J. Brau;R. Frey;O. Igonkina;M. Lu;C. T. Potter;N. B. Sinev;D. Strom;J. Strube;E. Torrence;A. Dorigo;F. Galeazzi;M. Margoni;M. Morandin;M. Posocco;M. Rotondo;F. Simonetto;R. Stroili;C. Voci;M. Benayoun;H. Briand;J. Chauveau;P. David;L. Del Buono;C.h. de la Vaissi`ere;O. Hamon;M. J. J. John;P.h. Leruste;J. Malcl`es;J. Ocariz;L. Roos;G. Therin;P. K. Behera;L. Gladney;Q. H. Guo;J. Panetta;M. Biasini;R. Covarelli;S. Pacetti;M. Pioppi;C. Angelini;G. Batignani;S. Bettarini;F. Bucci;G. Calderini;M. Carpinelli;R. Cenci;F. Forti;M. A. Giorgi;A. Lusiani;G. Marchiori;M. Morganti;N. Neri;E. Paoloni;M. Rama;G. Rizzo;J. Walsh;M. Haire;D. Judd;D. E. Wagoner;J. Biesiada;N. Danielson;P. Elmer;Y. P. Lau;C. Lu;J. Olsen;A. J. S. Smith;A. V. Telnov;F. Bellini;G. Cavoto;A. D‚ÄôOrazio;E. Di Marco;R. Faccini;F. Ferrarotto;F. Ferroni;M. Gaspero;L. Li Gioi;M. A. Mazzoni;S. Morganti;G. Piredda;F. Polci;F. Safai Tehrani;C. Voena;H. Schr¬®oder;G. Wagner;R. Waldi;T. Adye;N. De Groot;B. Franek;G. P. Gopal;E. O. Olaiya;F. F. Wilson;R. Aleksan;S. Emery;A. Gaidot;S. F. Ganzhur;P. F. Giraud;G. Graziani;G. Hamel de Monchenault;W. Kozanecki;M. Legendre;G. W. London;B. Mayer;G. Vasseur;C.h. Y`eche;M. Zito;M. V. Purohit;A. W. Weidemann;J. R. Wilson;F. X. Yumiceva;T. Abe;M. T. Allen;D. Aston;R. Bartoldus;N. Berger;A. M. Boyarski;O. L. Buchmueller;R. Claus;M. R. Convery;M. Cristinziani;J. C. Dingfelder;D. Dong;J. Dorfan;D. Dujmic;W. Dunwoodie;S. Fan;R. C. Field;T. Glanzman;S. J. Gowdy;T. Hadig;V. Halyo;C. Hast;T. Hryn‚Äôova;W. R. Innes;M. H. Kelsey;P. Kim;D. W. G. S. Leith;J. Libby;S. Luitz;V. Luth;H. L. Lynch;H. Marsiske;R. Messner;D. R. Muller;C. P. O‚ÄôGrady;V. E. Ozcan;A. Perazzo;M. Perl;B. N. Ratcliff;A. Roodman;A. A. Salnikov;J. Schwiening;A. Snyder;J. Stelzer;D. Su;M. K. Sullivan;K. Suzuki;S. Swain;J. M. Thompson;J. Va‚Äôvra;M. Weaver;A. J. R. Weinstein;W. J. Wisniewski;M. Wittgen;D. H. Wright;A. K. Yarritu;K. Yi;C. C. Young;P. R. Burchat;A. J. Edwards;S. A. Majewski;B. A. Petersen;C. Roat;M. Ahmed;S. Ahmed;M. S. Alam;J. A. Ernst;M. A. Saeed;F. R. Wappler;S. B. Zain;W. Bugg;M. Krishnamurthy;S. M. Spanier;R. Eck;J. L. Ritchie;A. Satpathy;R. F. Schwitters;J. M. Izen;I. Kitayama;X. C. Lou;S. Ye;F. Bianchi;M. Bona;F. Gallo;D. Gamba;M. Bomben;L. Bosisio;C. Cartaro;F. Cossutti;G. Della Ricca;S. Dittongo;S. Grancagnolo;L. Lanceri;L. Vitale;F. Martinez Vidal;R. S. Panvini;S.w. Banerjee;B. Bhuyan;C. M. Brown;D. Fortin;K. Hamano;R. Kowalewski;J. M. Roney;R. J. Sobie;J. J. Back;P. F. Harrison;T. E. Latham;G. B. Mohanty;H. R. Band;X. Chen;B. Cheng;M. Datta;A. M. Eichenbaum;K. T. Flood M. Graham;J. J. Hollar;J. R. Johnson;P. E. Kutter;H. Li;R. Liu;B. Mellado;A. Mihalyi;Y. Pan;R. Prepost;P. Tan;J. H. von Wimmersperg Toeller;S. L. Wu;Z. Yu;H. Neal

2007

Abstract

We study the decays B0 to J/psi pi+pi- and B+ to J/psi pi+pi0, including intermediate resonances, using a sample of 382 million BBbar pairs recorded by the BaBar detector at the PEP-II e+e- B factory. We measure the branching fractions B(B0 ->J/psi rho0) = (2.7 +/- 0.3 +/- 0.17) x 10-5 and B(B+ ->J/psi rho+) = (5.0 +/- 0.7 +/-0.31) x 10-5. We also set the following upper limits at the 90% confidence level: B(B0 -> J/psi pi+ \pi- non-resonant) < 1.2 x 10-5, B(B0 -> J/psi f_2(1270)) < 4.6 x 10-6, and B(B+ -> J/psi pi+ pi0 non-resonant) < 4.4 x 10-6. We measure the charge asymmetry in charged B decays to J/psi rho to be -0.11 +/- 0.12 +/- 0.08

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Parole chiave
	
			violazione di CP ; decadimenti rari del B
		
	Settori scientifico-disciplinari dell'articolo
	
			Settore FIS/04 - Fisica Nucleare e Subnucleare
		
	Data di pubblicazione
	
			2007
		
	Rivista in ANCE
	
			PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY
		
	DOI
	
			https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.76.031101
		
	Tipologia
	
			Article (author)
		
	Appare nelle tipologie:
	
			01 - Articolo su periodico

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2434/153059

Citazioni

ND

21

15

IRIS Institutional Research Information System - AIR Archivio Istituzionale della Ricerca